Рентгенофлуоресцентный спектрометр DF-1600

инструкция прибора

1 Диапазон элементов анализа Na-U;диапазон концентраций анализа：ppm～100%;

2 Благодаря конструкции с верхним расположением детектор и рентгеновская трубка находятся над образцом, что не приведет к повреждению и загрязнению окна детектора из-за падения образца, прост в эксплуатации и не требует технического обслуживания;

3 Система входа образецов с сервоприводом, точное управление для обеспечения превосходной повторяемости;

4 Неразрушающий анализ образцов, низкое потребление образцов, повторяемый анализ и тестирование;

5 Полностью автоматическая конструкция мехатроники, простой интерфейс управления;

6 автоматический вход 8 образецов, автоматическое обнаружение образецовы, защита организма человека от рентгеновского излучения;

7 Защита человеческого тела от рентгеновского излучения, интеллектуальная визуализация, интеллектуальный самоконтроль;

8 Превосходная система контроля температуры для повышения адаптивности прибора к изменениям температуры окружающей среды;

9 Образцы в основном обрабатываются двумя методами: методом плавления и методом таблетирования, и для различных типов образцов разрабатывается наиболее подходящий план обработки образцов;

10 Настроенный SDD-детектор, который имеет ультратонкое окно и сверхвысокую скорость счета, и чей способность обнаружения легких элементов, таких как натрий, более чем в 10 раз выше, скорость анализа высокая, точность высокая, стабильность хорошая, а частота отказов низкаях;

11 Многоязычное рабочее программное обеспечение в системе Windows удобно для пользователей в стране и за рубежом;

12 Гибкое аналитическое программное обеспечение для отображения данных, могут быть установлены различные отображения псевдоэлементов, а название и порядок отображения элементов оксидов могут быть установлены в соответствии с потребностями пользователя;

13 Встроенный дизайн параметров, простой в эксплуатации при построении рабочих кривых;

14 Лоток для образцов вращается автоматически, площадь измерения увеличивается, а погрешность частиц и неровностей может быть сведена к минимуму(подобранный)

технический параметр